[发明专利]元器件敏感参数退化的测量方法在审
| 申请号： | 201510236802.7 | 申请日： | 2015-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN105717384A | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;白桦;阳辉;孙旭朋 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨;王雪芬 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种元器件敏感参数退化的测量方法，包括：获取不同时刻元器件的敏感参数、影响所述敏感参数的应力和测量时刻；对所述敏感参数及应力进行数据预处理；对所述敏感参数、应力、测量时刻进行数据处理，获得去除所述应力及去除测量随机误差后的敏感参数。通过采用本发明所公开的元器件敏感参数退化的测量方法，去除了试验应力波动对元器件敏感参数退化信息的干扰，减少了基于敏感参数退化的元器件寿命的试验时间，能够快速获得元器件敏感参数变化趋势，降低了基于敏感参数退化的试验系统建设成本。 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 敏感 参数 退化 测量方法 | ||
【主权项】：
一种元器件敏感参数退化的测量方法，其特征在于，包括：获取不同时刻元器件的敏感参数、影响所述敏感参数的应力和测量时刻；对所述敏感参数及应力进行数据预处理；对所述敏感参数、应力、测量时刻进行数据处理，获得去除所述应力及去除测量随机误差后的敏感参数。
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