[发明专利]测试探针在审
| 申请号： | 201510238754.5 | 申请日： | 2015-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN104880585A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | 高春瑞 | 申请（专利权）人： | 厦门多彩光电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 | 代理人： | 何家富 |
| 地址： | 361000 福建省厦门市火*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试探针的结构改进。本发明提出一种测试探针，包括：一导体的杆体，该杆体的一端连接于一套体；一导体的套体，该套体包括一围合的壁面和一底面，该壁面远离该底面的一端形成一开口，且该底面上开设有一通孔，该壁面与该杆体的一端固定连接；一导体的探针头，该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部，该探针头设置在该套体内，且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔，该接触部至少有部分外露出该套体的该开口；一导体的弹簧，该弹簧套设在该探针头的支杆部，其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面；一导线，该导线的一端连接于该支杆部，该导线的另一端连接于该杆体。本发明用于对电子类产品进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 | ||
【主权项】：
一种测试探针，其特征在于，包括：一导体的杆体，该杆体的一端连接于一套体；一导体的套体，该套体包括一围合的壁面和一底面，该壁面远离该底面的一端形成一开口，且该底面上开设有一通孔，该壁面与该杆体的一端固定连接；一导体的探针头，该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部，该探针头设置在该套体内，且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔，该接触部至少有部分外露出该套体的该开口；一导体的弹簧，该弹簧套设在该探针头的支杆部，其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面；一导线，该导线的一端连接于该支杆部，该导线的另一端连接于该杆体。
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