[发明专利]一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法

摘要

本发明公开了一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的装置及方法，光源的光束被光电探测器接收，调节起偏器和检偏器的偏振方向相互平行，采集光电流值；将第一待测双折射器件放入第一转盘，转动第一转盘找到光电流最大位置并标记，采集光电流值，取下第一待测双折射器件；将第二待测双折射器件放入第二转盘，转动第二转盘找到光电流最大的位置并标记，采集光电流值；将第一待测双折射器件放入第一转盘；转动第一转盘，使第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的标记方向相互平行，采集光电流值；旋转第二转盘，将第二待测双折射器件转过π角度，采集光电流值；根据采集的光电流值，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向。

主权项

一种能够同时检测两个双折射器件光轴方向的方法，其特征是，包括如下步骤：步骤(1)：开启光源，出射的准直光束依次通过共传输轴放置的起偏器和检偏器后，被光电探测器接收，调节起偏器和检偏器的偏振方向相互平行，计算机采集此时光电流值I0；步骤(2)：将第一待测双折射器件放入第一转盘，转动第一转盘找到光电流最大的位置并在第一待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，采集此时光电流值I01，然后取下第一待测双折射器件；第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行或垂直，将第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行的情况记作情形a，第一待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互垂直的情况记作情形b；步骤(3)：将第二待测双折射器件放入第二转盘，转动第二转盘找到光电流最大的位置并在第二待测双折射器件上标记出起偏器偏振方向的平行方向，计算机采集此时光电流值I02；第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行或垂直，将第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互平行的情况记作情形c，第二待测双折射器件的光轴与起偏器偏振方向之间相互垂直的情况记作情形d；步骤(4)：重新将第一待测双折射器件放入第一转盘；转动第一转盘，使第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的标记方向相互平行，计算机采集此时光电流值I1；步骤(5)：旋转第二转盘，将第二待测双折射器件的标记方向转过π角度，计算机采集此时的光电流值I2；步骤(6)：根据上述步骤采集的光电流值I0、I01、I02、I1、I2，分析比较后，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；所述步骤(6)中的检测方法为：在任意一个确定波长处，所述光电流I(C1,C2)是关于自变量C1和C2均是周期为π的函数：I(0,0)＝I(0,π)＝I(π,0)＝I(π,π)＝2I(0,π2)=I(0,3π2)=1+cosδ2]]>I(π2,0)=I(3π2,0)=1+cosδ1]]>I(π2,π2)=I(3π2,3π2)=1+cos(δ1+δ2)]]>I(π2,3π2)=I(3π2,π2)=1+cos(δ1-δ2)]]>根据上述公式，同时对第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴快速检测方法为：将光电流值I2与I1对比：若I1≠I2，则情形b和d同时出现，即第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互垂直，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；否则，若光电流无变化，即I1＝I2；若I1＝I2，则转入以下判断操作：若光电流I1＝I2＝Is，则情形a和c同时出现，即第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互平行，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；若光电流I1＝I2≠Is，则有可能为：情形a、d同时出现，或情形b、c同时出现，将第二待测双折射器件旋转π/2角度，并采集此时的光电流值I3；将第二待测双折射器件继续旋转π角度，采集此时的光电流值I4，并将I4与光电流值I3对比；将I4与光电流值I3对比的步骤如下：若I3＝I4，则此时第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互平行，即从a、d同时出现的情形变化为a、c同时出现的情形，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；若I3≠I4，则此时第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴均与起偏器的偏振方向相互垂直，即从b、c同时出现的情形变化为b、d同时出现的情形，标记第一待测双折射器件和第二待测双折射器件的光轴方向，检测结束；所述Is为考虑第一待测双折射器件和第二待测双折射器件插入损耗后的标称光电流值，有：Is＝I0－IL3－IL4；其中，IL3为第一待测双折射器件的插入损耗引起的光电流衰减量，有：IL3＝I0－I01；IL4为第二待测双折射器件的插入损耗引起的光电流衰减量，有：IL4＝I0－I02。