[发明专利]一种激光修补线缺陷的方法在审
| 申请号： | 201510240897.X | 申请日： | 2015-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN106291995A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 陈智冈 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所31272 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 201506 上海市金山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种激光修补线缺陷的方法，该技术方案主要通过将显示器阵列基板上己破损的非导电层以激光施打溅镀的方式进行补回，进而再实施金属线路的修复，有效的完成了显示器阵列基板上线缺陷的修补，因此该发明技术方案可将线缺陷修补成无缺陷，进一步提升了修补成功率以及提升了产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 修补 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
一种激光修补线缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：步骤S1、提供一设置有若干搭接的导线的半导体衬底，且在搭接处的导线之间具有线缺陷区；步骤S2、在所述线缺陷区去除暴露的导线，以将所述线缺陷区予以暴露；步骤S3、于所述线缺陷区上制备绝缘膜；以及步骤S4、对进行去除处理后的所述导线进行桥接处理；其中，所述绝缘膜用于将搭接处的导线进行隔离。
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