[发明专利]SOC芯片eFuse失效的处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510242182.8 申请日: 2015-05-13
公开(公告)号: CN104835532B 公开(公告)日: 2017-12-26
发明(设计)人: 廖裕民;林良飞 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子股份有限公司
主分类号: G11C29/02 分类号: G11C29/02
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种SOC芯片eFuse失效的处理方法及装置,方法包括将SOC芯片的操作系统分为安全操作系统和非安全操作系统;每次开机之前对efuse电路进行遍历读操作,并将读数据送往比较判断单元将读数据和期望值进行比较,以判断efuse电路是否正常;如果efuse电路正常,相关模块将映射地址指向安全系统BOOT_ROM,将CPU访问的操作系统指向安全操作系统,且允许CPU访问运行安全软件;如果efuse电路不正常,则将映射地址指向非安全系统BOOT_ROM,将CPU访问的操作系统指向非安全操作系统;且不允许CPU访问运行安全软件。如此,efuse损坏后仍能继续使用,节约成本。
搜索关键词: soc 芯片 efuse 失效 处理 方法 装置
【主权项】:
一种SOC芯片eFuse失效的处理方法,其特征在于:包括步骤S1、将SOC芯片的操作系统分为安全操作系统和非安全操作系统,所述安全操作系统是有很强安全性的操作系统;所述非安全系统是指对安全性能没有要求的操作系统;其中,所述安全操作系统所对应的安全系统BOOT_ROM中的代码都是经过加密的代码,需要efuse中的密钥才能解开加密后运行;所述非安全操作系统对应的非安全系统BOOT_ROM中的代码都是没有加密的代码,能直接运行;步骤S2、每次开机之前通过读控制单元对efuse电路进行遍历读操作,并将读数据送往比较判断单元;步骤S3、比较判断单元将读数据和期望值进行比较,如果读数据和期望值一致说明efuse电路正常,如果不一致说明efuse电路不正常;并将比较结果送往BOOT_ROM映射单元、操作系统选择单元和安全软件访问控制单元;步骤S4、所述BOOT_ROM映射单元根据比较结果进行boot_rom地址的映射动作,如果efuse电路正常,将映射地址指向安全系统BOOT_ROM;如果efuse电路不正常,则将映射地址指向非安全系统BOOT_ROM;所述操作系统选择单元根据比较结果进行操作系统选择动作,如果efuse电路正常,将CPU访问的操作系统指向安全操作系统;如果efuse电路不正常,则将CPU访问的操作系统指向非安全操作系统;所述安全软件访问控制单元根据比较结果控制CPU是否可以访问运行安全软件,如果efuse电路正常,允许CPU访问运行安全软件;如果efuse电路不正常,则不允许CPU访问运行安全软件。
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