[发明专利]基于电子标尺的滤线栅检测方法有效
申请号: | 201510249192.4 | 申请日: | 2015-05-15 |
公开(公告)号: | CN105157659B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 李华伟;李凤婷;于振;关帅;张向阳 | 申请(专利权)人: | 天津普达软件技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300457 天津市滨海新区经济技术开*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于电子标尺的滤线栅检测方法,步骤为创建兼容设备描述表DC;采用刻度准确的刻度尺进行标定;在兼容设备描述表DC中,用GDI+画标尺,方法如下将GDI+设置为抗锯齿模式,然后绘制标尺,标尺分为标尺中心线和标尺刻度线,标尺中心线位于显示区中心位置;根据滤线栅的尺寸计算标尺刻度的位置;将生成的电子标尺置于待检测的滤线栅图像上,每叠加一根铝片,观察一下该铝片是否和标尺中相应位置的刻度线重合。本发明能够根据检测需求,生成电子标尺,对不同产品检测适应性强,能够有效抗锯齿,具有快速准确的特点。 | ||
搜索关键词: | 基于 电子 标尺 滤线栅 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于电子标尺的滤线栅检测方法,采用如下的步骤:1)创建兼容设备描述表DC,之后采集的图像将转化为HBITMAP格式,选入兼容设备描述表DC;2)采用刻度准确的刻度尺进行标定,方法如下:a)准备一个刻度清晰的刻度尺;b)采集一幅刻度尺图像,在放大图像显示区选择刻度为0mm刻度线的左端点(Xsl,Ysl)和右端点(Xsr,Ysr)、刻度为100mm刻度线的左端点(Xel,Yel)和右端点(Xel,Yel),标定时,以刻度为100mm刻度线的右端点的y轴坐标为基准;3)在兼容设备描述表DC中,用GDI+画标尺,方法如下:将GDI+设置为抗锯齿模式,然后绘制标尺,标尺分为标尺中心线和标尺刻度线,标尺中心线位于显示区中心位置,标尺刻度线根据以下参数进行绘制:标尺的计算公式为:X1=(Xsl+Xsr+Xel+Xer)/4‑Ws/2 公式(1)X2=(Xsl+Xsr+Xel+Xer)/4+Ws/2 公式(3)其中:X1、Y1分别为标尺刻度起点的横坐标和纵坐标;X2、Y2分别为标尺刻度终点的横坐标和纵坐标,θ=arctan(H/D+W),n‑‑标尺刻度数,n=H/T;i‑‑标尺刻度的位置;H‑滤线栅高度,单位:毫米;T‑铝片厚度,单位:毫米;D‑交点距离,单位:毫米;各铝片延长线的交点到滤线栅的距离称为交点距离,交点距离范围为:700mm至2000mm;W‑滤线栅宽度,单位:毫米;Ws‑标尺宽度,单位:像素;按照上述公式分别计算出标尺的每个刻度的起点和终点坐标,画出电子标尺;4)将待检测的滤线栅放置在采集刻度尺图像时的刻度尺的摆放位置,采集一幅待检测的滤线栅图像;5)将生成的电子标尺置于待检测的滤线栅图像上,每叠加一根铝片,观察一下该铝片是否和标尺中相应位置的刻度线重合,如果重合说明该铝片角度正确,如果不重合需要重新调整铝片位置,以保证滤线栅合格。
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