[发明专利]侦测方法以及应用该侦测方法的光学装置有效
| 申请号： | 201510249910.8 | 申请日： | 2015-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN106289065B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 陈志隆;颜智敏 | 申请（专利权）人： | 高准精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/30 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 张睿 |
| 地址： | 中国台湾高雄市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种侦测方法以及应用该侦测方法的光学装置。该光学装置包括结构光产生单元以及感应判断单元，结构光产生单元用以提供投射至一受测表面的一结构光(structure light)，且于结构光投射至受测表面时，受测表面上会呈现一受测图案(pattern)以及一受测光点；而感应判断单元用以感应受测表面上所呈现的受测图案以及受测光点，并依据所感应的受测图案的变形程度而判断受测表面是否平坦，以及依据所感应的受测光点的面积而获得受测表面与光学装置之间的距离。本发明的侦测方法用以侦测一受测表面是否平坦以及该受测表面的一距离。藉此，本发明可利用结构光对受测表面进行距离以及平坦度量测，以降低量测的复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 侦测 方法 以及 应用 光学 装置 | ||
【主权项】：
一种光学装置，其特征在于，包括：结构光产生单元，用以提供投射至一受测表面的一结构光，其中，于该结构光投射至该受测表面时，该受测表面上呈现一受测图案以及一受测光点；以及感应判断单元，用以感应该受测表面上所呈现的该受测图案以及该受测光点，并依据所感应的该受测图案的一变形程度而判断该受测表面是否平坦，以及依据所感应的该受测光点的一面积而获得该受测表面与该光学装置之间的一距离。
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