[发明专利]半导体激光器离线测试方法

摘要

本发明提供一种半导体激光器离线测试方法，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对各测试装置供电，各测试装置通过数据总线与控制主机电连接，该方法包括测试装置接收控制主机发送的包括各待测试参数的测试指令；测试装置断开与控制主机间的电连接，并控制分别与各待测试参数对应的传感器对待测试半导体激光器的各待测试参数分别进行参数数据采集；测试装置对采集到的参数数据进行数据处理，并存储处理结果；测试装置测试完成后断开与半导体激光器的连接，并将处理结果发送给控制主机，以实现对各半导体激光器工作参数的离线测试。

主权项

一种半导体激光器离线测试方法，其特征在于，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对所述各测试装置供电，所述各测试装置通过数据总线与控制主机电连接；所述方法包括：所述测试装置接收所述控制主机通过所述数据总线发送的测试指令，所述测试指令中包括各待测试参数；所述测试装置断开与所述控制主机间的电连接，并控制所述测试装置上分别与所述各待测试参数对应的传感器对所述测试装置对应的待测试半导体激光器的所述各待测试参数分别进行参数数据采集；所述测试装置对采集到的所述参数数据进行数据处理，并本地存储处理结果；所述测试装置在测试完成时断开与对应的待测试半导体激光器间的电连接；所述测试装置接收所述控制主机发送的读取指令，并根据所述读取指令向所述控制主机发送所述处理结果，以使所述控制主机对所述处理结果进行分析处理并存储分析处理结果。