[发明专利]单片机的测试方法和系统有效
| 申请号： | 201510252268.9 | 申请日： | 2015-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN106294034B | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 周博;郭平日;李奇峰;杨云 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种单片机的测试方法和系统，其中，方法包括：待测试单片机中的节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第一测试指令；节点指示控制逻辑根据第一测试指令，调用测试激励表中的测试激励数据，以使待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；在待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第二测试指令，对待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。本发明实施例的单片机的测试方法和系统，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省测试时间，降低测试成本，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 单片机 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种单片机的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：待测试单片机中的节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第一测试指令；所述节点指示控制逻辑根据所述第一测试指令，调用测试激励表中的测试激励数据，以使所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；以及在所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，所述节点指示控制逻辑接收所述上位测试机发出的第二测试指令，对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于比亚迪股份有限公司，未经比亚迪股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510252268.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
