[发明专利]一种基于与门、或门与选择器的抗辐射容错电路设计方法有效

专利信息
申请号: 201510252467.X 申请日: 2015-05-18
公开(公告)号: CN106301352B 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 佘晓轩 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H03K19/20 分类号: H03K19/20
代理公司: 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 代理人: 吴桂琴
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于集成电路领域,涉及抵抗辐射的电路设计方法,具体涉及一种基于与门、或门与选择器的抗辐射容错电路设计方法。本发明用一个与门、一个或门和一个2选1选择器构造一个比较表决电路,然后将被保护电路的主输出与冗余输出分别与比较表决电路两个输入端口相连,当被保护电路因辐射导致其主输出与冗余输出数值不同时,比较表决电路输出维持原值,不会输出被保护电路可能错误的输出值。经测试实验结果表明,本发明与三模冗余方案的错误发生次数都较少而且相当,它们的抗辐射能力接近,但本发明的面积和功耗比三模冗余方案的面积和功耗小的比较多。
搜索关键词: 一种 基于 与门 选择器 辐射 容错 电路设计 方法
【主权项】:
1.一种基于与门、或门与选择器的抗辐射容错电路设计方法,其特征在于,其包括步骤:步骤1:按包含一个与门A1、一个或门A2和一个2选1选择器M1的电路结构,设计比较表决电路;步骤2:将被保护电路的主输出与冗余输出分别与所述的比较表决电路输入端口相连。
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