[发明专利]作为垂直晶体管的局部互连件的顶部金属焊盘有效
申请号: | 201510262838.2 | 申请日: | 2015-05-21 |
公开(公告)号: | CN106206514B | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 连万益;邱奕勋;游家权;黄禹轩;王志豪 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种集成电路结构包括第一垂直晶体管和第二垂直晶体管。第一垂直晶体管包括第一半导体沟道、位于第一半导体沟道上方的第一顶部源极/漏极区以及覆盖第一顶部源极/漏极区的第一顶部源极/漏极焊盘。第二垂直晶体管包括第二半导体沟道、位于第二半导体沟道上方的第二顶部源极/漏极区以及覆盖第二顶部源极/漏极区的第二顶部源极/漏极焊盘。局部互连件互连第一顶部源极/漏极焊盘和第二顶部源极/漏极焊盘。第一顶部源极/漏极焊盘、第二顶部源极/漏极焊盘和局部互连件是连续区域的部分,在第一顶部源极/漏极焊盘、第二顶部源极/漏极焊盘和局部互连件之间没有可辨识的界面。本发明还涉及作为垂直晶体管的局部互连件的顶部金属焊盘。 | ||
搜索关键词: | 作为 垂直 晶体管 局部 互连 顶部 金属 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路结构,包括:第一垂直晶体管,包括:第一半导体沟道;第一顶部源极/漏极区,位于所述第一半导体沟道上方;和第一顶部源极/漏极焊盘,覆盖所述第一顶部源极/漏极区;第二垂直晶体管,包括:第二半导体沟道;第二顶部源极/漏极区,位于所述第二半导体沟道上方;和第二顶部源极/漏极焊盘,覆盖所述第二顶部源极/漏极区;以及局部互连件,互连所述第一顶部源极/漏极焊盘和所述第二顶部源极/漏极焊盘,其中,所述第一顶部源极/漏极焊盘、所述第二顶部源极/漏极焊盘和所述局部互连件是连续区域的部分,在所述第一顶部源极/漏极焊盘、所述第二顶部源极/漏极焊盘和所述局部互连件之间没有可辨识的界面;金属硅化物层,位于所述第一顶部源极/漏极区和所述第一顶部源极/漏极焊盘之间以及所述第二顶部源极/漏极区和所述第二顶部源极/漏极焊盘之间。
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