[发明专利]用于角膜测量的激光诱导等离子体光谱分析设备及方法有效
| 申请号： | 201510262847.1 | 申请日： | 2015-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN104856640A | 公开（公告）日： | 2015-08-26 |
| 发明（设计）人： | 孙辉;樊仲维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | A61B3/10 | 分类号： | A61B3/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及激光眼科手术技术领域，具体公开一种用于角膜测量的激光诱导等离子体光谱分析设备，包括：激光器，光束质量调节系统，光束转折系统，滤光系统，望远镜系统，检测点距离动态监测系统，反馈调节控制系统，中阶梯光栅光谱仪，积分延迟探测系统以及计算机。本发明还公开一种利用该设备进行角膜测量的方法。本发明的用于角膜测量的设备及方法，能够迅速并准确的获得角膜的生物力学参数，且对被检测者的要求较低。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 角膜 测量 激光 诱导 等离子体 光谱分析 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于角膜测量的激光诱导等离子体光谱分析设备，其特征在于，包括：激光器，光束质量调节系统，光束转折系统，滤光系统，望远镜系统，检测点距离动态监测系统，反馈调节控制系统，中阶梯光栅光谱仪，积分延迟探测系统以及计算机；所述光束质量调节系统用于控制激光光束的输出光强；所述光束转折系统用于折转控制激光光束；所述检测点距离动态监测系统用于检测角膜到望远镜系统的距离；所述反馈调节控制系统用于控制望远镜系统；所述望远镜系统用于调节激光的聚焦位置，使激光聚焦到角膜上，在角膜表面形成等离子体光信号；所述滤光系统用于对等离子体光信号进行降噪处理；所述中阶梯光栅光谱仪用于对采集的等离子体光信号进行光谱分析；所述积分延迟探测系统用于处理采集的等离子体光信号，得到定量的光谱信息。
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