[发明专利]利用光谱分析检测角膜切削阈值的激光系统及检测方法有效
| 申请号： | 201510263392.5 | 申请日： | 2015-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN105044045B | 公开（公告）日： | 2017-10-03 |
| 发明（设计）人： | 孙辉;樊仲维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及激光眼科手术技术领域，具体公开一种利用光谱分析检测角膜切削阈值的飞秒激光系统，包括样品模块、飞秒激光发射模块、激光聚焦模块、光谱分析模块；飞秒激光发射模块发射激光束，所述激光束经过激光聚焦模块聚焦，照射于所述样品模块的角膜样品上，所述角膜样品受激光诱导后发出激光诱导等离子体光信号，所述激光诱导等离子体光信号经激光聚焦模块发送至所述光谱分析模块，所述光谱分析模块对所述激光诱导等离子体光信号进行光谱分析并计算角膜。本发明对应公开一种利用光谱分析检测角膜切削阈值的方法。本发明利用对激光诱导等离子体光信号光谱分析，确定角膜切削阈值，实现了在手术中实时、精确的确定角膜的激光切割阈值的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 光谱分析 检测 角膜 切削 阈值 激光 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种利用光谱分析检测角膜切削阈值的激光系统，包括样品模块(4)、飞秒激光发射模块(1)、激光聚焦模块(2)，其特征在于，还包括光谱分析模块(3)；所述样品模块(4)，用于放置角膜样品；所述飞秒激光发射模块(1)，用于发射激光束；所述激光聚焦模块(2)，用于将所述激光束聚焦至所述样品模块(4)；所述光谱分析模块(3)，用于对激光诱导等离子体光信号进行光谱分析，计算角膜切割阈值；飞秒激光发射模块(1)发射激光束，所述激光束经过激光聚焦模块(2)聚焦，照射于所述样品模块(4)的角膜样品上，所述角膜样品受激光诱导后发出激光诱导等离子体光信号，所述激光诱导等离子体光信号经激光聚焦模块(2)发送至所述光谱分析模块(3)，所述光谱分析模块(3)对所述激光诱导等离子体光信号进行光谱分析并计算角膜切削阈值。
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