[发明专利]一种基于光学相干层析成像技术的相位定标方法有效
| 申请号： | 201510264287.3 | 申请日： | 2015-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN104849221B | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 钱冰洁;郭晓睿;申志远;何永红 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01J3/28 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光学相干层析成像技术的相位定标方法，包括如下步骤第一步用电荷耦合器件采集n空间的光谱光强I与像元数n的关系I～n；第二步获取所述电荷耦合器件像元数n与波数k的关系k～n；第三步利用所述像元数n与波数k的关系k～n，对n空间的光谱光强与像元数n的关系I～n进行插值运算，得到k空间的光谱光强与波数k的关系I～k。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 相干 层析 成像 技术 相位 定标 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光学相干层析成像技术的相位标定方法，其特征在于包括如下步骤：第一步：用电荷耦合器件采集n空间的光谱光强I与像元数n的关系I～n；第二步：获取所述电荷耦合器件像元数n与波数k的关系k～n；所述第二步具体包括：用光学相干层析成像设备对放在z1处的反射镜处进行成像、采集第一光谱，对所述第一光谱进行处理，得到第一相位曲线；将反射镜放在z2处采集第二光谱，对所述第二光谱进行处理得到第二相位曲线；将第一相位曲线与第二相位曲线相减得到所述电荷耦合器件像元数n与波数k的关系k～n；所述第二步中采集的第一光谱为其中，I(k)是光谱强度，|s(k)|2是光谱包络，I0是直流量，z1是光程差，是由于色散带来的相位项，对于采集到的第一光谱，首先使用傅立叶变换得到频域信号，在频域通过截取数据滤去低频的光谱包络|s(k)|2、直流量I0以及各频段的噪声信号，再通过傅立叶逆变换得到的关系，接下来反解相位，就可以得到相位随像元n的变化关系；第三步：利用所述像元数n与波数k的关系k～n，对n空间的光谱光强与像元数n的关系I～n进行插值运算，得到k空间的光谱光强与波数k的关系I～k。
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