[发明专利]一种基于单光楔的双波段合成光束检测方法和装置有效
申请号: | 201510264589.0 | 申请日: | 2015-05-22 |
公开(公告)号: | CN104848805B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 崔占刚;亓波;任戈 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01B11/27 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于单光楔的双波段合成光束检测方法和装置,该方法用于对双波段的合成光束光轴平行度的检测。基于单光楔的双波段合成光束检测系统包括缩束前组、缩束后组、衰减片、楔镜、成像组、CCD传感器,利用楔镜对两波长的色散系数差异使两波长的激光光束产生一个固定的初始夹角,从而实现对双光束合成光的光轴平行度检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 单光楔 波段 合成 光束 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于单光楔的双波段合成光束检测方法,其特征在于:具有一装置,包括前置缩束器、衰减片、光楔、成像组、CCD传感器,前置缩束器包括缩束前组、缩束后组,位于光路的前端,衰减片与光楔位于压缩后的平行光路中,成像组位于光楔后部;装置工作模式如下:由双波长激光合成的激光光束被前置缩束器接收,经过缩束后的激光束被放置于缩束器后的衰减片衰减,衰减后的激光束再进入光楔,光楔对合成光束中两不同的波长光产生一个出始的θ夹角,该光束经成像组后在CCD传感器靶面上成像,经图像处理算法计算出两波长对应所成像的两个质心位置,进而计算出两波长光束之间的夹角;具体包括:经成像组后将聚焦为两个分离的光斑,读取光电传感器中的光电信号后可以计算出光斑的质心位置,由成像组焦距f以及成像光斑的质心位置关系可以计算出合成光束中λ1、λ2的夹角θ,用此夹角减去光楔对λ1、λ2产生的初始夹角θ1便可以得到原始合成光束中λ1、λ2的夹角θ0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510264589.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。