[发明专利]一种目标透视雷达成像方法有效

专利信息
申请号: 201510272010.5 申请日: 2015-05-25
公开(公告)号: CN104965203B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 刘峰;向寅;于慧 申请(专利权)人: 北京理工雷科电子信息技术有限公司
主分类号: G01S13/88 分类号: G01S13/88
代理公司: 北京理工大学专利中心11120 代理人: 温子云,仇蕾安
地址: 100081 北京市海淀区中关*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种目标透视雷达成像方法,用于介质中的目标进行近场成像。该方法采用步进频连续波雷达作为目标透视雷达,结合电磁场相参和合成孔径技术获得介质的单频点三维成像结果;然后利用补偿相位值对单频点三维成像结果进行补偿,利用熵值表达有序性的特点,从补偿结果中找到熵值最小者,认为是最为逼近真实的三维成像结果。再从所述最为逼近真实的介质三维成像结果中找到熵值最小的二维切片,认为是最为逼近介质中真实目标深度的切片。本发明能够应用在近场条件下,实现了对小目标的探测和高分辨成像。
搜索关键词: 一种 目标 透视 雷达 成像 方法
【主权项】:
一种目标透视雷达成像方法,用于介质中的目标进行近场成像,其特征在于,该方法包括:步骤一、采用步进频连续波雷达作为目标透视雷达,构建目标透视雷达的收发天线在自由空气中的电磁场分布并预存;步骤二、利用合成孔径成像技术,对目标透视雷达实际扫描获得的二维平面探测数据进行单频点成像,获得介质的单频点三维成像结果;所述合成孔径成像的处理过程中的相参操作是利用预存的所述自由空气中的电磁场分布与所述二维平面探测数据进行相参;步骤三、生成一系列补偿相位值,对步骤二的单频点三维成像结果进行补偿,然后利用熵值表达有序性的特点,从补偿结果中找到熵值最小者,认为是最为逼近真实的介质三维成像结果;步骤四、从所述最为逼近真实的介质三维成像结果中找到熵值最小的二维切片,认为是最为逼近介质中真实目标深度的切片,即目标成像结果。
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