[发明专利]测距系统及校准测距系统的方法在审
| 申请号： | 201510272077.9 | 申请日： | 2015-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN106199619A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 石昕;曾进民;邢星 | 申请（专利权）人： | 上海诺司纬光电仪器有限公司;美国西北仪器公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/497 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 张骏鸣;王军 |
| 地址： | 201707 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测距系统，包括基座、承载板、发射器、发射镜组、接收镜组和接收传感器，所述发射器发出激光束，依次经过发射镜组和发射透镜，形成发射光路，发射光路发射到待测物体上被反射形成接收光路，接收光路被接收传感器接收，通过调节装置对发射光路的调节，实现接收光路的校准，达到精确测量目的，本发明还提供了一种校准测距系统的方法，本方法操作简单，检测精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
本发明提供一种测距系统，包括基座、承载板、发射器、发射镜组、接收镜组和接收传感器，所述发射器发出激光束，依次经过发射镜组和发射透镜，形成发射光路，发射光路发射到待测物体上被反射形成接收光路，接收光路被接收传感器接收，通过调节装置对发射光路的调节，实现接收光路的校准，达到精确测量目的，本发明还提供了一种校准测距系统的方法，本方法操作简单，检测精度高。
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