[发明专利]平面物体二维变形量的测量方法

摘要

本发明公开了一种平面物体二维变形量的测量方法，包括在待测物体上制作多个标志点，并采用数字相机采集待测物体在拉伸变形前的图像，选择不少于四个标志点对数字相机进行标定，获得物理坐标与像素坐标之间的坐标转换关系；采用数字相机采集待测物体在拉伸变形后的变形图像；提取获得任意标志点在变形图像中的像素坐标值，进而结合坐标转换关系，计算获得拉伸变形后该标志点的物理坐标值；计算位置标志点的位移量作为待测物体在该位置的拉伸变形量。本发明采用非接触测量方式，简单易行、测量范围大、测量精度高，可广泛应用于平面物体的拉伸变形的测量领域中。

主权项

平面物体二维变形量的测量方法，其特征在于，包括：S1、在待测物体上制作多个标志点，并采用数字相机采集待测物体在拉伸变形前的图像后，选择不少于四个标志点对数字相机进行标定，获得物理坐标与像素坐标之间的坐标转换关系；S2、采用数字相机采集待测物体在拉伸变形后的变形图像；S3、提取获得任意标志点在变形图像中的像素坐标值，进而结合坐标转换关系，计算获得拉伸变形后该标志点的物理坐标值；S4、计算位置标志点的位移量作为待测物体在该位置的拉伸变形量；所述步骤S1，包括S11～S14：S11、在待测物体上制作多个标志点，进而选择不少于四个标志点，并分别获得所选择的每个标志点的物理坐标值；S12、采用数字相机采集待测物体在拉伸变形前的图像；S13、提取获得所选择的每个标志点在图像中的像素坐标值；S14、根据所选择的所有标志点的物理坐标值和像素坐标值，计算获得物理坐标与像素坐标之间的坐标转换关系；所述步骤S1中所选择的标志点的数量为四个，所述步骤S14，包括S141～S143：S141、根据所选择的四个标志点的物理坐标值和像素坐标值，采用下式计算获得转换向量h的值：其中，(x，y)表示标志点的物理坐标值，(u，v)表示标志点的像素坐标值，h'表示转换向量h的转置矩阵；S142、根据转换向量h获得转换矩阵H的值：S143、根据下式获得物理坐标和像素坐标之间的坐标转换关系：上式中，s为比例系数且s＝h31·x+h32·y+1；所述步骤S2，其具体为：调整数字相机的倾斜角度，使得数字相机相对待测物体的长度方向发生倾斜，然后采用数字相机采集待测物体在拉伸变形后的变形图像。