[发明专利]一种利用扫描链获取芯片逻辑结构的方法在审

专利信息
申请号: 201510274627.0 申请日: 2015-05-26
公开(公告)号: CN104898038A 公开(公告)日: 2015-09-09
发明(设计)人: 陈晓明;刘洋;李松松;张建伟;朱慧超 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G06F21/56
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 潘迅;梅洪玉
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明提供的一种利用扫描链获取芯片逻辑结构方法,充分利用了芯片的固有扫描链结构,将时序逻辑电路分割成以寄存器为边界的组合逻辑块,采集真值;用Q-M化简法或其他的化简方法化简后,按照芯片输出和D触发器输入的逻辑表达式,构建整个芯片的逻辑结构。该方法在不需要破坏芯片的前提下反向分析出芯片的逻辑结构,使被植入硬件木马的芯片在应用前被检出,避免电子系统受到硬件木马的威胁,保证系统安全。
搜索关键词: 一种 利用 扫描 获取 芯片 逻辑 结构 方法
【主权项】:
一种利用扫描链获取芯片逻辑结构的方法,其特征在于,(1)采集真值表PCI数据采集卡作为上位机和待测芯片的接口,根据上位机的指令向待测芯片发送激励,并将待测芯片的响应返回给上位机模块;利用待测芯片的固有扫描链结构,将时序逻辑电路分割成以寄存器为边界的组合逻辑块,采集真值;1)测试模式下,统计D触发器个数;初始化D触发器的输入d0,d1,…,dk‑1和输出q0,q1,…,qk‑1,初始化芯片的输入xo,x1,…,xm‑1和输出y0,y1,…,yn‑1;2)功能模式下,采集芯片的输出y0,y1,…,yn‑1;3)测试模式下,串行移出内部D触发器的逻辑值d0,d1,…,dk‑1;重复直到xo,x1,…,xm‑1和q0,q1,…,qk‑1所有可能的值都被取到,得到y0,y1,…,yn‑1和D触发器的输入d0,d1,…,dk‑1关于xo,x1,…,xm‑1和q0,q1,…,qk‑1的真值表;(2)化简真值表芯片输出和D触发器输入关于芯片输入和D触发器输出的逻辑表达式,采用Q‑M化简法或是其他真值表化简;(3)按照芯片输出和D触发器输入的逻辑表达式,构建整个芯片的逻辑结构;1)化简与扫描设计相关的引脚SI,SO和SE,扫描触发器变为非扫描触发器;SI表示扫描链的输入,SO表示扫描链的输出,SE表示测试模式使能信号,RST_N表示复位信号;2)化简为满足时序和驱动能力而插入的缓冲器和反相器;3)化简芯片输出和D触发器输入引脚的逻辑表达式。
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