[发明专利]集成化电容式微加工超声换能器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510278817.X 申请日: 2015-05-27
公开(公告)号: CN105036058A 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 刘玉荣;姚若河;耿魁伟 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B06B1/02
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 陈文姬
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种集成化电容式微加工超声换能器的制备方法,包括以下步骤:在玻璃衬底上制备缓冲过渡层;制备薄膜晶体管的源、漏电极;制备薄膜晶体管的半导体有源层;制备薄膜晶体管的栅介质层;制备薄膜晶体管的栅电极;制备第一氮化硅薄膜,对第一氮化硅薄膜进行刻蚀,形成凹槽;在高掺杂硅基片上沉积第二氮化硅薄膜;将第一氮化硅薄膜和第二氮化硅薄膜通过晶片键合技术粘接,在两层氮化硅薄膜之间形成微空腔;对高掺杂硅基片进行刻蚀剥离;制备电容式微加工超声换能器的上电极;制备超声波耦合层。本发明还公开了上述方法制备的集成化电容式微加工超声换能器。本发明可以提高电容式微加工超声换能器的灵敏度和微型化,降低加工成本。
搜索关键词: 集成化 电容 式微 加工 超声 换能器 及其 制备 方法
【主权项】:
集成化电容式微加工超声换能器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在玻璃基底上沉积二氧化硅薄膜,作为过渡层;(2)在二氧化硅薄膜上沉积第一金属薄膜层,对第一金属薄膜层进行刻蚀,形成薄膜晶体管的源、漏电极;(3)在步骤(2)处理后的基底上沉积氧化锌基半导体薄膜层,对氧化锌基半导体薄膜层刻蚀,形成薄膜晶体管的半导体有源层;(4)在半导体薄膜层上沉积绝缘膜,形成薄膜晶体管的栅介质层;(5)在绝缘膜上制备第二金属膜层,刻蚀形成薄膜晶体管的栅电极;所述第二金属膜层同时也作为电容式微加工超声换能器的下电极;(6)在电容式微加工超声换能器的下电极上沉积第一氮化硅薄膜,对第一氮化硅薄膜进行刻蚀,形成凹槽;(7)在高掺杂硅基片上沉积第二氮化硅薄膜;(8)将第一氮化硅薄膜和第二氮化硅薄膜通过晶片键合技术粘接,在两层氮化硅薄膜之间形成微空腔;(9)对第二氮化硅薄膜上的高掺杂硅基片进行刻蚀剥离;(10)在第二氮化硅薄膜上沉积第三金属膜层,并对第三金属膜层进行刻蚀,形成电容式微加工超声换能器的上电极;(11)在电容式微加工超声换能器的上电极上制备环氧树脂膜,作为超声波耦合层。
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