[发明专利]一种元器件的温升测试的方法及测试装置

摘要

本发明实施例提供了一种元器件的温升测试的方法及测试装置，涉及元器件测试领域，用以提高工作效率，降低人力成本。所述方法包括；在当前运行频率下，获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值；并确定运行参数集中的n个运行参数是否达到各自对应的目标值；在至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时，将至少一个运行参数对应的检测标识位置为第一标识，输出每个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度；确定每个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识；在运行参数集中有至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识时，则执行第一流程，直至运行参数集中的每个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识。

主权项

1.一种元器件的温升测试的方法，其特征在于，包括：在当前运行频率下，获取运行参数集中每个运行参数的当前运行值；所述运行参数集中包含有n个运行参数；所述n为大于0的整数；分别确定所述运行参数集中的n个运行参数的当前运行值是否达到各自对应的目标值；在所述运行参数集的n个运行参数的当前运行值均未达到各自对应的目标值时，执行第一流程，直到在所述运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值；在所述运行参数集中有至少一个运行参数的当前运行值达到其对应的目标值时，将所述至少一个运行参数对应的检测标识位置为第一标识，并输出所述运行参数集中的n个运行参数的当前运行值及待测元器件的温度；其中，所述第一标识是用于表示运行参数的当前运行值达到其对应的目标值的标识；确定所述运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位是否均置为第一标识；在所述运行参数集中有至少一个运行参数对应的检测标识位没有置为第一标识时，则执行所述第一流程，直至所述运行参数集中的n个运行参数对应的检测标识位均置为第一标识；其中，所述第一流程包括：根据所述运行参数集中，各个运行参数的运行差值及对应的检测标识位，获取运行频率调整值；所述运行参数的运行差值是指运行参数的当前运行值与其对应的目标值之间的差值；根据所述运行频率调整值更新所述当前运行频率。