[发明专利]用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法有效
| 申请号： | 201510284644.2 | 申请日： | 2015-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN105277278B | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | G·斯皮内拉;M·萨皮恩扎;G·布鲁诺 | 申请（专利权）人： | 意法半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 意大利阿格*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有：光检测器(2)，根据检测到的UV辐射，生成检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至光检测器(2)，并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理，以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)；并且进一步被设置有：调节级(4)，耦合至处理级(6)，用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 uv 指数 检测 半导体 集成 器件 以及 相关 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成器件(1)，用于检测紫外UV辐射的UV指数，所述器件包括：单个光检测器(2)，被配置为根据检测到的所述UV辐射，生成电检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至所述光检测器(2)，并且被配置为，基于所述电检测量(Ipuvd)，在输出处提供所述UV指数的检测值(UVdet)，所述器件的特征在于：所述处理级(6)被配置为，基于调节因子(Gtrim)，对所述检测量(Ipuvd)进行处理，以在所述输出处提供所述UV指数的所述检测值(UVdet)；以及所述器件进一步包括调节级(4)，耦合至所述处理级(6)，并且被配置为对所述调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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