[发明专利]一种地层探测方法有效
申请号: | 201510289235.1 | 申请日: | 2015-05-29 |
公开(公告)号: | CN104929625B | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 柯式镇;许巍 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团公司;中国石油大学(北京) |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 贾磊 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种地层探测方法,该方法包括在探测器上设置由多个发射线圈和接收线圈组成的线圈系,所述多个发射线圈发射不同频率的探测信号;调节所述多个发射线圈与所述接收线圈的距离,使预设深度的地层对所述每个频率的探测信号的响应信号具有相同的预设响应参数值,得到所述预设深度对应的线圈系的优化位置参数;根据要探测的目标深度和对应的所述优化位置参数设置所述线圈系,并向所述目标深度的地层发射所述不同频率的探测信号;测量所述目标深度的地层对所述探测信号的响应信号。该方法能够同时使用多个频率对同一深度的地层进行探测,获取更丰富的探测数据,提高探测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 地层 探测 方法 | ||
【主权项】:
一种地层探测方法,其特征在于,包括:在探测器上设置由多个发射线圈和接收线圈组成的线圈系,所述多个发射线圈发射不同频率的探测信号;调节所述多个发射线圈与所述接收线圈的距离,使预设深度的地层对所述每个频率的探测信号的响应信号具有相同的预设响应参数值,得到所述预设深度对应的线圈系的优化位置参数;根据要探测的目标深度和对应的所述优化位置参数设置所述线圈系,并向所述目标深度的地层发射所述不同频率的探测信号;测量所述目标深度的地层对所述探测信号的响应信号;其中,所述调节所述多个发射线圈与所述接收线圈的距离,使预设深度的地层对所述每个频率的探测信号的响应信号具有相同的预设响应参数值,得到所述预设深度对应的线圈系的优化位置参数,包括:获取所述不同频率的探测信号的伪几何因子曲线;确定所述预设深度和所述预设响应参数值对应的目标点;调节所述多个发射线圈与所述接收线圈的距离,使得所述不同频率的探测信号的伪几何因子曲线都经过所述目标点;将所述发射线圈与所述接收线圈的距离记为相应频率下所述预设深度对应的线圈系的优化位置参数。
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