[发明专利]一种通用FPGA测试系统在审
| 申请号： | 201510290208.6 | 申请日： | 2015-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN106291334A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 杜欣军 | 申请（专利权）人： | 上海鑫皇实业有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海唯源专利代理有限公司31229 | 代理人： | 曾耀先 |
| 地址： | 200063 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种通用FPGA测试系统，属于电子技术领域。该系统包括测试板和上位机。其中测试板包括测试芯片、通用处理器和插接件。测试芯片用以运行FPGA测试程序、统计程序并生成测试数据；通用处理器用以运行应用程序，并控制所述的测试芯片与所述上位机之间的数据交互；上位机则用以显示所述的测试数据，并根据操作将测试程序及应用程序分别加载到所述的测试芯片与所述的通用处理器。通过该系统，测试人员能够方便地利用上位机，并针对不同的待测FPGA，将特定的测试程序、统计程序和应用程序加载到测试板，进而能够更准确地反映待测FPGA的实际工作状态，提升测试数据准确性，保证测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 fpga 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种通用FPGA测试系统，其特征在于，包括测试板和上位机，其中，所述的测试板包括：测试芯片，用以运行FPGA测试程序、统计程序并生成测试数据；通用处理器，用以运行应用程序，控制所述的测试芯片与所述上位机之间的数据交互；以及插接件，用以实现所述的测试芯片与待测FPGA目标板之间的数据交互；所述的上位机，用以显示所述的测试数据，并根据操作将测试程序及应用程序分别加载到所述的测试芯片与所述的通用处理器。
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