[发明专利]一种绝缘栅双极型晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201510294056.7 申请日: 2015-06-01
公开(公告)号: CN104992968B 公开(公告)日: 2018-03-02
发明(设计)人: 陈万军;程武;古云飞;李震洋;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L21/331;H01L29/36
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙)51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及半导体器件技术领域,具体涉及一种绝缘栅双极型晶体管及其制造方法。本发明采用的技术方案通过设置在P‑body区中的N型重掺杂层9,使器件成为深埋发射极沟槽型IGBT,相当于引入了达林顿管,如图5所示,在开启过程中,J1所在的支路首先导通,电子注入到N‑漂移区4,促使阳极P区向漂移区注入空穴,空穴经外延P‑body区到达阴极。随着J2电流的增大,Rp两端的压降增大,使得达林顿管开启。在导通状态下,N型CS层5与P型外延区PN结的高空穴密度降低了导通电阻,关断时更容易抽取N‑漂移区4的空穴,从而降低了关断时间和关断损耗。本发明尤其适用于绝缘栅双极型晶体管及其制造。
搜索关键词: 一种 绝缘 栅双极型 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种绝缘栅双极型晶体管,包括从下往上依次设置的金属化集电极(1)、P型集电极区(2)、N型缓冲层(3)、N‑漂移区(4)、N型CS层(5)和P‑body区(8);所述P‑body区(8)上表面具有金属化发射极(11);所述器件还具有槽栅结构,所述槽栅结构由栅氧化层(6)、多晶硅栅(7)和金属化栅电极(10)组成,所述多晶硅栅(7)位于栅氧化层(6)中,所述栅氧化层(6)沿器件垂直方向穿过P‑body区(8)和N型CS层(5)后与N‑漂移区(4)连接,所述金属化栅电极(10)位于多晶硅栅(7)上表面;所述P‑body区(8)上层具有发射极N+区(12),所述发射极N+区(12)与栅氧化层(6)的侧面连接;其特征在于,所述P‑body区中具有N型重掺杂层(9),所述N型重掺杂层(9)一侧与栅氧化层(6)连接另一侧与栅氧化层(6)保持一定间隙。
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