[发明专利]一种X荧光光谱法对谷物中硒元素的快速测定方法在审
| 申请号： | 201510297368.3 | 申请日： | 2015-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN105021640A | 公开（公告）日： | 2015-11-04 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;余正东;吴敏;李强;殴飞;张辉;姚栋樑 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X荧光光谱法对谷物中硒元素的快速测定方法，包括：1）取一定量谷物去皮，粉碎过目筛，得到谷物粉末；2）将所述谷物粉末装入样品杯并压实，形成待测样品；3）利用X荧光光谱法测量待测样品的X荧光强度；以及4）基于所述待测样品的X荧光强度，计算得到该谷物中的硒元素含量。根据本发明实施例的测定方法，通过将谷物进行粉碎过目筛来进行检测，可以，也能够保证测试的高精确性。同时，本发明的实施例的测定方法还具有如下优点：处理方法简单--仅使用锤式旋风磨对样品进行粉碎过筛处理即可；时间短，样品前处理仅需2min；仪器测试简单，一键化操作即可以，且无任何废弃耗材。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱 谷物 元素 快速 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种X荧光光谱法对谷物中硒元素的快速测定方法，其特征在于，包括：1)取一定量谷物去皮，粉碎过目筛，得到谷物粉末；2)将所述谷物粉末装入样品杯并压实，形成待测样品；3)利用X荧光光谱法测量待测样品的X荧光强度；以及4)基于所述待测样品的X荧光强度，计算得到该谷物中的硒元素含量。
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