[发明专利]一种利用CAD技术测量大R值的方法在审

专利信息
申请号: 201510301620.3 申请日: 2015-06-05
公开(公告)号: CN104880156A 公开(公告)日: 2015-09-02
发明(设计)人: 赵惠光;郑伟;雷世斌;赵义屏;韩璐 申请(专利权)人: 贵州航天精工制造有限公司
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 遵义市遵科专利事务所 52102 代理人: 陈源鸿
地址: 563000 *** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明公开了一种利用CAD技术测量大R值的方法,特别是当R值较大时。应用投影仪的直线测量功能对被测要素R轮廓线上取点坐标,应用CAD的制图和标注工具进行绘图测量;投影仪可以精确的测量直线距离,根据三点定圆的数学原理,具有数学模型理论基础的科学性;CAD技术的快捷、准确性,在检测领域得到了应用。通用检测设备光学投影仪与CAD技术完美结合在检测领域的应用,取代价格昂贵的专用设备。因此本发明的测量方法准确率高、操作性强、方便快捷,可以取代价格昂贵的专用设备。
搜索关键词: 一种 利用 cad 技术 测量 方法
【主权项】:
 一种利用CAD技术测量大R值的方法,其特征是:分为如下步骤:A、首先利用定位夹具固定待测工件,确定测量的基准面和基准点;B、利用投影仪测量被测要素R轮廓线上的点与基准点的距离坐标,至少五点;C、根据测得的点的坐标利用制图软件AutoCAD绘圆,再将所绘圆的半径R标注出来;D、根据所有所绘圆的半径R计算被测要素R值。
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