[发明专利]一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法在审
| 申请号： | 201510301822.8 | 申请日： | 2015-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN106248214A | 公开（公告）日： | 2016-12-21 |
| 发明（设计）人： | 沈庆刚;夏玉保;夏飞云 | 申请（专利权）人： | 桂林市新业机械制造有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司45112 | 代理人： | 唐修豪 |
| 地址： | 541001 广西壮族*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法，使用稳定了10 min以上的热像仪，调整热像仪的焦距，使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像，将热像仪中心像素点P对准面源黑体，调整面源黑体表面温度，使P 点灰度为H2，重复测量，使H1＝H2，记录面源黑体温度与标准漫反射板温度，利用热像仪像素点P 测量被测物体表面，使P点灰度为H3，将热像仪中心像素点P再次对准面源黑体，调整面源黑体温度使P点灰度为H2，重复测量，使H2= H3，记录面源黑体温度与被测物体表面温度，分析测量数据获得物体表面发射率，该方法提高了发射率测量精度，误差小，对发射率偏低的设备，测量精度提升较为明显。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 热像仪 测量 物体 表面 发射 方法 | ||
【主权项】：
一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法，其特征在于,包含如下步骤：1）使用稳定了 10 min以上的热像仪，调整热像仪的焦距，使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像；2）用热像仪的中心像素点 P 测量标准漫反射板灰度 H1；3）将热像仪中心像素点 P 对准面源黑体，调整面源黑体表面温度，使 P 点灰度为 H2；4）重复步骤2）和步骤3），使H1＝H2，记录面源黑体温度与标准漫反射板温度；5）利用热像仪像素点 P 测量被测物体表面，使 P 点灰度为H3；6）将热像仪中心像素点 P 再次对准面源黑体，调整面源黑体温度使 P 点灰度为H2；7）重复步骤5）和步骤6）使H2= H3，记录面源黑体温度与被测物体表面温度；8）分析测量数据获得物体表面发射率。
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