[发明专利]一种基于自准直仪的姿态测试装置及方法有效
申请号: | 201510303942.1 | 申请日: | 2015-06-05 |
公开(公告)号: | CN105021211B | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 徐凯;孙晨;张群;王鑫;张世先;翟晓静;李莉 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司第七0七研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 天津盛理知识产权代理有限公司12209 | 代理人: | 王倩 |
地址: | 300131 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于自准直仪的姿态测试装置及方法,该装置主要包括自准直仪、光学六面体、双轴电子水平仪和带调平功能的基座。该方法为将姿态测试装置放置在稳固的基础上,自准直仪照准目标反光面后,使用自准直陀螺经纬仪照准光学六面体,并测量其与真北方位基准的夹角。启动自准直仪进行目标反光面姿态的连续数据录取,启动双轴电子水平仪进行水平姿态的连续数据录取。在数据录取完毕后,应用姿态测试装置数据处理方法,对自准直仪及双轴电子水平仪的数据进行处理,最终得到目标反光面在地理坐标系内姿态的连续变化,从而满足连续绝对测量的需要。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 准直仪 姿态 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于自准直仪的姿态测试装置,其特征在于:包括自准直仪、光学六面体、双轴电子水平仪、带调平功能的基座,自准直仪安装在带调平功能的基座上,在自准直仪的左右两侧分别设置光学六面体和双轴电子水平仪,该光学六面体和双轴电子水平仪均安装在带调平功能的基座上。
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