[发明专利]一种基于射线簇的两个平面夹角的测量方法有效
| 申请号： | 201510304333.8 | 申请日： | 2015-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN104913742B | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 王仲;李兴强;付鲁华;吴翔宇;吴振刚 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于射线簇的两个平面夹角的测量方法，包括以下步骤将由射线源组成的非接触测量头固定在机床主轴上，调节测量射线与机床主轴的回转轴线垂直，使得非接触测量头置于第一平面、第二平面之间的任意位置；获取第一出射点到第一平面、第二平面的距离，以及第一出射点的坐标；获取第二出射点到第一平面、第二平面的距离，以及第二出射点的坐标；通过第一、第二出射点与第一平面、第二平面之间的距离以及两出射点之间的距离，获取第一平面和第二平面之间的夹角。本方法采用的是非接触测量方式，非接触测量头远离被测物表面，提高了测量的安全性；只需要两次平移、两次回转测量头即可得到两平面夹角，操作简单、方便，测量效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 射线 两个 平面 夹角 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于射线簇的两个平面夹角的测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：将由射线源组成的非接触测量头固定在机床主轴上，调节测量射线与机床主轴的回转轴线垂直，使得非接触测量头置于第一平面、第二平面之间的任意位置；获取第一出射点到第一平面、第二平面的距离，以及第一出射点的坐标(x1,y1)；获取第二出射点到第一平面、第二平面的距离，以及第二出射点的坐标(x2,y2)；其中，第一出射点和第二出射点连线与两平面的交线是垂直的；通过第一出射点、第二出射点与第一平面、第二平面之间的距离以及两出射点之间的距离，获取第一平面和第二平面之间的夹角；所述获取第一出射点到第一平面、第二平面的距离的步骤具体为：测量射线绕第一出射点旋转，测量射线扫过第一平面和第二平面的最短测量线段，为第一出射点分别到第一平面和第二平面的距离；所述获取第二出射点到第一平面、第二平面的距离的步骤具体为：测量射线绕第二出射点旋转，测量射线扫过第一平面和第二平面的最短测量线段，为第二出射点分别到第一平面和第二平面的距离。
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