[发明专利]基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法

摘要

本发明公开了一种基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法，以同地点且同高度悬挂的标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度为基准，得到待标定绝缘子相对于标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度的比值，然后将比值的集合作为归一化灰密，再将归一化灰密样本中的离群值进行剔除，最后再基于灰密参数的绝缘子积污难易度特征值的求解。本发明能够避免外绝缘配置的盲目性，标定结果更为准确，同时能够避免对该型号绝缘子进行重复积污试验，节省企业的人力、财力和物力。

主权项

基于灰密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法，其特征在于，包括以下步骤：A：分别测量N个待标定绝缘子表面的灰密，然后将标准盘形悬式绝缘子作为参照绝缘子，测量与每个待标定绝缘子同地点同高度悬挂的标准盘形悬式绝缘子表面的灰密；然后进入步骤B；B：以标准盘形悬式绝缘子的灰密作为基准，分别计算每一个待标定绝缘子的灰密与对应的标准盘形悬式绝缘子的灰密的比值，该比值作为归一化灰密；然后将待标定绝缘子的N个归一化灰密放于同一集合中，得到该待标定绝缘子的归一化灰密集合；然后进入步骤C；C：计算该待标定绝缘子的归一化灰密集合中所有数据的平均值和标准差s；然后进入步骤D；平均值的计算公式为：$\stackrel{\‾}{x}=\frac{1}{N}\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{x}_i,$其中，x_i为归一化灰密集合中的归一化灰密数据，i＝1,2，……，N；标准差s的计算公式为：$s=\sqrt{\frac{1}{N}\underset{i=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{(x_i-\stackrel{\‾}{x})}^2};$其中，x_i为归一化灰密集合中的归一化灰密数据，为待标定绝缘子的归一化灰密集合中的所有数据的平均值，i＝1,2，……，N；D：计算归一化灰密集合中的可疑值然后根据得到的可疑值计算用于检验可疑值是否为归一化灰密集合中离群值的检验统计量g；然后进入步骤E；可疑值的计算公式为：$\hat{x}=\left\{\begin{array}{c}{x}_{\max },(x_{\max }-\stackrel{\‾}{x})>(\stackrel{\‾}{x}-x_{\min })\\ x_{\min },(x_{\max }-\stackrel{\‾}{x})\<(\stackrel{\‾}{x}-x_{\min })\end{array}\right.;$检验统计量g的计算公式为：$g=|\hat{x}-\stackrel{\‾}{x}|/s;$其中，x_min为归一化灰密集合中所有数据中的最小值，x_max为归一化灰密集合中所有数据中的最大值，为待标定绝缘子的归一化灰密集合中的所有数据的平均值；s为待标定绝缘子的归一化灰密集合中所有数据的标准差；E：利用判断公式判断归一化灰密集合中的可疑值是否为离群值，判断公式为g>g_P(N)；其中，g_P(N)为离群值检验的临界值，下标p为point首字母并非变量，α＝0.95，为自由度为(N‑2)的t分布在显著性水平为α/(2N)时的临界值；在判断归一化灰密集合中的可疑值是否为离群值时，若g>g_P(N)，则将此可疑值从归一化灰密集合中排除，然后返回步骤D；若g≤g_p(N)，则进入步骤F；F：计算排除了离群值的灰密集合对应的正态总体期望的95％置信区间上界c_u，计算公式为以计算得到的灰密集合对应的正态总体期望的95％置信区间上界c_u作为待标定绝缘子的灰密标定值；标准盘形悬式绝缘子的积污难易度特征值为1，即标准盘形悬式绝缘子的灰密标定值为1；其中，N^*为排除了离群值的归一化灰密集合中的灰密数据个数，为排除了离群值的归一化灰密集合中所有数据的平均值，s′为排除了离群值的归一化灰密集合中所有数据的标准差；α＝0.95，表示自由度为(N*‑1)的t分布在显著性水平为时的临界值，的计算公式为其中，x′_i为排除了离群值的归一化灰密集合中的归一化灰密数据，i＝1,2，……，N^*；标准差s′的计算公式为：$s^{\′}=\sqrt{\frac{1}{N^{*}}\underset{i=1}{\overset{N^{*}}{\mathrm{\Σ}}}{(x_i^{\′}-\stackrel{\‾}{x^{\′}})}^2}$其中，x′_i为排除了离群值的归一化灰密集合中的归一化灰密数据，为排除了离群值的归一化灰密集合中所有数据的平均值，N^*为排除了离群值的归一化灰密集合中的灰密数据个数，i＝1,2，……，N^*。