[发明专利]一种样品测量装置加热结构在审
| 申请号： | 201510308073.1 | 申请日： | 2015-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN105158170A | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 邓文平;朱道龙 | 申请（专利权）人： | 苏州谱道光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 张建纲 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种样品测量装置加热结构，包括至少一个子热源，其特征在于，所述子热源分散布置于各目标加热区域，各子热源由相互独立的温度控制模块驱动。所述样品测量装置为多次反射光谱测量装置，包括光学元件及其安装部分、样品测量池和加热装置，所述加热装置用于加热光学元件及其安装部分和样品测量池。由于子热源分别加热于样品测量池不同目标区域，且子热源由相互独立的温度控制模块驱动，使得可以选择性地加热样品测量池的不同区域，使加热装置加热均匀，可以有效达成温控目标，同时还具有加热效率高、功耗低、可靠性高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 样品 测量 装置 加热 结构 | ||
【主权项】：
一种样品测量装置加热结构，包括至少一个子热源，其特征在于，所述子热源分散布置于各目标加热区域，各子热源由相互独立的温度控制模块驱动。
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