[发明专利]一种利用离子注入结合化学刻蚀制备KTiOPO4单晶薄膜的方法有效
申请号: | 201510308632.9 | 申请日: | 2015-06-08 |
公开(公告)号: | CN105002471B | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 卢霏;马长东;许波;范冉冉 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | C23C14/48 | 分类号: | C23C14/48;C23C14/58 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人: | 崔苗苗 |
地址: | 250061 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种利用离子注入结合化学刻蚀制备KTiOPO4单晶薄膜的方法法。将低能量范围(100~6000keV)的H或He离子注入到晶体样品中,注入离子剂量范围是1×1016~10×1016离子/平方厘米,注入温度是室温或低温。然后将样品进行退火处理,退火温度范围为200℃到600℃,退火总时长10秒~2小时。将样品用化学试剂刻蚀,实现晶体薄膜剥离。采用本发明中的方法,我们将2000keV能量,4×1016剂量的He离子在室温条件下注入到Z切向的KTP样品后,退火处理后再放入HF溶液中刻蚀实现了薄膜剥离。利用本发明中的方法我们已经获得了厚度为5微米的磷酸钛氧钾(KOTiPO4)晶体薄膜,这是至今首次利用离子注入结合化学刻蚀方法得到的KTP单晶薄膜。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 离子 注入 结合 化学 刻蚀 制备 ktiopo sub 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种利用离子注入结合化学刻蚀制备KTiOPO4单晶薄膜的方法,其特征在于,包括步骤如下:(1)提供光学晶体样品;(2)对光学晶体样品进行离子注入,形成晶体损伤层,其中注入离子能量范围是500keV~6000keV,离子的注入剂量大于1×1016离子/平方厘米;(3)将注入后的样品表面涂覆苯并环丁烯树脂保护或者与衬底绑定,再进行退火处理;(4)将退火处理后的样品进行抛光处理;(5)将抛光处理后的样品用化学药剂进行选择性刻蚀,剥离出晶体薄膜。
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