[发明专利]一种单层导电涂层厚度和电导率涡流检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种单层导电涂层厚度和电导率涡流检测方法及装置，检测装置包括信号发生模块、探头、信号处理模块、信号采集模块、反演模块和输出模块，反演模块通过信号采集模块采集到的电压信号反演计算出被测件的涂层厚度和电导率。本发明可以实现涂层厚度与电导率的同时测量，检测装置结构简单，具有很好的便携性；检测方法在提高涡流检测精度的同时，降低了厚度反演方法的难度，简化了反演流程，反演算法程序简单明了，易于实现，检测精度较高，提高了检测效率。

主权项

一种单层导电涂层厚度和电导率涡流检测方法，其特征在于，包括以下步骤:步骤一、通过信号发生模块产生单个正弦激励信号，并将其输入探头的激励线圈；步骤二、将探头固定在具有涂层的被测件上方，在被测件和探头之间的空间形成一个耦合的电磁场，探头的检测线圈将探测到的磁感应强度信号转化成相对应的电压信号，并将该电压信号作为响应信号输入到信号处理模块；步骤三、通过信号处理模块将得的电压信号进行放大滤波处理，滤波放大后得到的电压信号输入到信号采集模块；通过信号采集模块对得到的电压信号进行数据采集，提取出该电压信号的幅值，作为反演模块的一个输入信号U1；步骤四、改变步骤一中信号发生模块正弦激励信号的频率，重复步骤二和三，得到的电压信号的幅值作为反演模块的另一个输入信号U2；步骤五、将采集到的电压信号U1、U2输入反演模块计算出涂层厚度d和电导率σ；反演模块采用的公式为：U1＝(k1σ+b2)d+b1，U2＝(k2σ+b4)d+b3，其中，k1为U1拟合直线的斜率与电导率变化关系拟合直线的斜率，b1为U1随涂层厚度变化拟合直线的截距，b2为U1拟合直线斜率与电导率变化拟合直线的截距，k2为U2拟合直线的斜率与电导率变化关系拟合直线的斜率，b3为U2随涂层厚度变化拟合直线的截距，b4为U2拟合直线斜率与电导率变化拟合直线的截距。