[发明专利]电子元件测试设备

摘要

本发明是一种电子元件测试设备，包含供料装置、收料装置、环境控制装置、测试装置、搬移装置及中央控制装置，该搬移装置以移料机构在供料装置处取出待测的电子元件，并移载至环境控制装置处，该环境控制装置设有至少一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该承置机构设置于暂置区，并以承置器供移料机构置入待测的电子元件，该测试装置以拾取机构于环境控制装置的承置器取出预冷的待测电子元件，并移载至测试室，且置入于测试器而执行冷测作业，冷测完毕后，搬移装置的移料机构将已测的电子元件移载至收料装置收置。利用环境控制装置直接强制预冷待测的电子元件而缩短预冷作业时间，并防止电子元件结露而确保测试合格率，提升测试生产效能。

主权项

一种电子元件测试设备，其特征在于，包含：机台；供料装置：装配于该机台，并设有至少一供料机构，用以容置至少一待测的电子元件；收料装置：装配于该机台，并设有至少一收料机构，用以容置至少一已测的电子元件；测试装置：装配于该机台，并设有测试室，在该测试室内设有至少一测试器，用以测试电子元件；环境控制装置：装配于该机台，并设有至少第一暂置区、承置机构、控温机构及防结露机构，该第一暂置区设于该测试装置的一侧，该承置机构是在该至少第一暂置区设有至少一承置器，用以承置电子元件，该控温机构是在该承置机构的至少一承置器设有预冷单元，用以预冷该承置器上待测的电子元件，该防结露机构是在该至少第一暂置区及该测试装置的测试室分别设有能够防止电子元件结露的第一防结露单元及第三防结露单元；搬移装置：装配于该机台，并设有至少一移料机构，用以移载电子元件；中央控制装置：用以控制及整合各装置作动，而执行自动化作业。