[发明专利]电路与形成该电路的方法在审
申请号: | 201510315877.4 | 申请日: | 2015-06-11 |
公开(公告)号: | CN106298487A | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 邱家荣;江昱维;叶腾豪 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L29/45 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种电路与形成该电路的方法,其中描述的形成电路的方法包括:于基板上利用半导体材料形成半导体材料层,以及形成层间导体接触半导体材料层。此半导体材料层可为薄膜层。于位于半导体材料层之上的层间绝缘体之中刻蚀开口,以于半导体材料层上暴露落着区。由开口所暴露的半导体材料通过于该开口中添加半导体材料来增加厚度。添加半导体材料的工艺可包括毯覆沉积,或仅在落着区中选择性成长。反应前驱物,例如金属硅化物前驱物,于开口中的落着区上沉积。促使前驱物与半导体的反应。于开口中形成层间导体。 | ||
搜索关键词: | 电路 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种形成电路的方法,包括:于一基板上利用一半导体材料形成一半导体材料层;于该半导体材料层之上形成一层间绝缘体;于该层间绝缘体之中刻蚀一开口,以于该半导体材料层上暴露一落着区;添加该半导体材料于该开口中,以增加该开口中的该半导体材料层的厚度;于该开口中的该落着区上沉积一反应前驱物,以使该半导体材料与该反应前驱物于该开口中产生一反应;以及于该开口中形成一层间导体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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