[发明专利]一种掺杂光纤Verdet常数的测试装置和方法

摘要

本发明公开了一种掺杂光纤Verdet常数的测试装置，包括ASE光源，准直器，起偏器，斩波器，透镜，光纤三轴位移台，螺线管，直流电源，检偏器，光电探测器，锁相放大器，计算机；待测掺杂光纤无需任何熔接，直接放入螺线管中心通道测试。本发明使用了斩波器和锁相放大器，可以有效抑制光路中的噪声，实现Verdet常数的准确测量。测试中无需多次调节检偏器角度，只要开关电流源并记录锁相放大器的读书即可。与传统的光纤Verdet常数测试装置相比，本发明无熔接损耗、抗噪性能好、灵敏度高、操作简单，适用于各类掺杂石英光纤或玻璃光纤Verdet常数的测定。

主权项

一种掺杂光纤Verdet常数的测试装置，其特征在于，包括ASE光源（1），准直器（2），起偏器（3），斩波器（4），透镜（5），光纤三轴位移台（6），螺线管（7），直流电源（8），检偏器（9），光电探测器（10），锁相放大器（11），计算机（12），待测掺杂光纤（13）；所述ASE光源（1）通过单模跳线与准直器（2）相连，输出空间光进入起偏器（3），输出线偏振光；线偏光经过斩波器（4）调制，再通过透镜（5）耦合进入待测掺杂光纤（13），通过光纤三轴位移台（6）的调整提高耦合效率；所述待测掺杂光纤（13）放入定制的螺线管（7）中心通道，螺线管（7）与直流电源（8）相连并提供磁场；光波从待测光纤（13）出来后同样经过透镜（5）和光纤三轴位移台（6）的调整，通过检偏器（9），最后进入光电探测器（10）；所述光电探测器（10）和斩波器（4）控制端都与锁相放大器（11）连接，所述锁相放大器（11）、检偏器（9）都与计算机（12）连接。