[发明专利]一种用于小型离轴光学系统的MTF测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201510320716.4 申请日: 2015-06-12
公开(公告)号: CN104931239B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 程德文;胡源;王涌天;刘越 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 刘芳;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种用于小型离轴光学系统的MTF测试装置及方法,该装置主要由平行光管、MTF探测系统、平面反射镜及二维旋转机构构成;其中二维旋转机构与平面反射镜刚性连接;平行光管和MTF探测系统位于同一光轴上,平面反射镜位于二者之间。利用本发明可以使得测试调整机构大为简化,便于操作,并且将平面反射镜与待测光学系统形成一个测试模块,特别便于开展一系列光学性能模块化测试,简化操作流程,提高测试效率。
搜索关键词: 一种 用于 小型 光学系统 mtf 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于小型离轴光学系统的MTF测试装置,其特征在于,主要由平行光管(1)、MTF探测系统(3)、平面反射镜(4)及二维旋转机构(5)构成;所述平面反射镜(4)的加工面形误差应满足其中θ为平面反射镜法线与入射光轴夹角,W(x,y)为满足一定测试精度前提下,系统误差分配给平面反射镜的波前误差;其中二维旋转机构(5)与平面反射镜(4)刚性连接;平行光管(1)和MTF探测系统(3)位于同一光轴上,平面反射镜(4)位于二者之间;所述二维旋转机构(5)带动平面反射镜(4)在空间两维方向上的旋转,进行不同视场点的采样,从而完成不同视场角下的光学系统MTF测试。
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