[发明专利]一种带CCD保护的4F相位成像系统有效
| 申请号： | 201510323103.6 | 申请日： | 2015-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN106442426B | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 宋瑛林;杨俊义 | 申请（专利权）人： | 苏州微纳激光光子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 汪旭东 |
| 地址： | 215500 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种带CCD保护的4F相位成像系统装置，将4F相位系统进行改造使得激光器和CCD位于同一侧，设置可移动衰减片支架，通过移动衰减片位置获得线性光斑与非线性光斑。在单脉冲作用下测量材料非线性系数。按照本发明装置工作测量光路简单，测量灵敏度高，数据处理简单、无需移动样品，切测量过程中不会由于误操作引起CCD损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ccd 保护 相位 成像 系统 | ||
【主权项】：
一种带CCD保护装置的4F相位成像系统，将经过相位物体光束通过两个反射镜反射，经半透半反镜分为两束，一束经过透镜样品成像于CCD，另一束经过透镜成像于CCD，其特征在于入射激光与成像CCD位于光路同一侧，测量步骤为：（1）将衰减片移至图2所示位置，采集线性光斑；（2）将衰减片移至图3所示位置，采集非线性光斑；在入射激光束、CCD与测量光路之间设置导轨，两个衰减片位于导轨上，相对距离固定，可以在导轨上自由移动。
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