[发明专利]氙灯发光强度分布测试装置在审

专利信息
申请号: 201510325928.1 申请日: 2015-06-15
公开(公告)号: CN104913908A 公开(公告)日: 2015-09-16
发明(设计)人: 朱健强;吴永忠;焦翔;李养帅;尹进 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种氙灯发光强度分布测试装置,包括平台、两个垫块、氙灯固定架、氙灯、铝箔、旋转轴、两个旋转轴支撑臂、两个紧固螺钉、半圆工字轨道、滑块、光电探测器和转换器。本发明装置具有结构简单,可靠性高,测试距离、测试角度、测试波长可调的特点。
搜索关键词: 氙灯 发光强度 分布 测试 装置
【主权项】:
一种氙灯发光强度分布测试装置,其特征在于该装置包括一个平台(1)、第一垫块(2)、氙灯固定架(3)、铝箔(4)、氙灯(5)、第一旋转轴支撑臂(6)、旋转轴(7)、导轨(8)、紧固螺钉(9)、光电探测器(10)、紧固螺钉(11)、滑块(12)、第二旋转轴支撑臂(13)、转换器(14)和第二垫块(15),在所述的平台(1)的一端固定第一垫块(2),所述的第二垫块(15)固定在所述平台(1)的另一端,所述的第一垫块(2)由基体(21)和悬壁板(22)构成的“Γ”形结构,所述的氙灯固定架(3)固定在第一垫块(2)的基体(21)上,氙灯(5)的两端分别固定在所述的氙灯固定架(3)的上下两端的轴孔中,所述的氙灯(5)采用铝箔(4)包裹,并留有微型发射窗口(41),第一旋转轴支撑臂(6)固定在第一垫块(2)的悬壁板(22)上,所述的第二旋转轴支撑臂(13)固定在第二垫块(15)上,所述的旋转轴(7)的一端置于第一旋转轴支撑臂(6)的轴孔中,另一端置于第二旋转轴支撑臂(13)的轴孔中;所述的导轨(8)包括半圆形导轨(81)和导轨底座(82),所述的导轨底座(82)的轴孔套设在所述的旋转轴(7)上,形成绕所述的旋转轴(7)的移动和转动结构,所述的半圆形导轨(81)通过紧固螺钉(9)定位在所述的导轨底座(82)上,所述的滑块(12)通过紧固螺钉(11)定位在所述的半圆形导轨(81)上,所述的光电探测器(10)固定在所述的滑块(12)上,所述的光电探测器(10)的输出端与位于所述的第二垫块(15)上的转换器(14)的输入端相连接。
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