[发明专利]空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法

摘要

本发明公开了一种空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法，该方法通过对干式空心电抗器进行局部放电测量，记录产生初始局放时的电压值和局放值，通过比对无异常电磁线绕制出电抗器产生局放时的电压值和局放值，根据差异得出干式空心电抗器内部导体是否存在绝缘异常和质量缺陷。本方法可对空心电抗器生产完毕后，对内部导体的绝缘异常和质量缺陷进行有效检测，保证空心电抗器的产品质量。

主权项

 一种空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法，其特征在于具体方法步骤如下：（1）对两膜电磁线和四膜电磁线进行局部放电测量，取两根平行放置的电磁线，两根电磁线用绝缘材料紧紧缠绕在一起，记录样品起始局放电压和某一电压下局放值之间的差异，根据试验数据可得出两膜在4KV时产生局放，四膜在8KV时产生局放，即四膜电磁线产生局放的电压值是两膜电磁线产生局放的电压值的两倍；（2）对四膜完好电磁线和四膜有导体质量缺陷电磁线进行局部放电测量，取两根平行放置的电磁线，一根带有绝缘异常或质量缺陷，一根正常，两根电磁线用绝缘材料紧紧缠绕在一起，其中有缺陷的位置朝向另一根电磁线，记录样品起始局放电压和某一电压下局放值之间的差异，根据试验数据可得出完好电磁线在8KV时产生局放，且局放值要比有缺陷电磁线局放值小100pc；（3）制作电抗器样机，内部导体为绝缘正常、质量完好的电磁线，对电抗器样机进行局部放电试验，记录产生初始局部放电时的电压值U和局放值P；（4）制作电抗器样机，内部导体为待检测的电磁线，对电抗器样机进行局部放电试验，记录产生初始局部放电时的电压值U1和局方值P1，若U1＜U，则可判断待检测的电磁线有绝缘异常，若U1=U，但P1＞P，则可判断待检测的电磁线有质量缺陷。