[发明专利]校验处理方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201510333185.2 | 申请日： | 2015-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN106257845B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 张高科 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071;H04B10/079;H04L12/24 |
| 代理公司： | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人： | 金海荣 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种校验处理方法、装置及系统，其中，该方法包括：将待校验信息发送给现场维护装置，其中，所述待校验信息用于所述现场维护装置根据所述待校验信息对待校验设备进行校验处理，所述现场维护装置至少包括第一现场维护装置和第二现场维护装置，所述待校验设备至少包括光纤的第一端待校验设备和所述光纤的第二端待校验设备；接收所述现场维护装置根据所述待校验信息对所述待校验设备进行校验处理的校验结果，解决了相关技术中对光纤的校验较复杂且效率低的问题，降低了复杂度且提高了校验的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 校验 处理 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种校验处理方法，其特征在于，包括：将待校验信息发送给现场维护装置，其中，所述待校验信息用于所述现场维护装置根据所述待校验信息对待校验设备进行校验处理，所述现场维护装置至少包括第一现场维护装置和第二现场维护装置，所述待校验设备至少包括光纤的第一端待校验设备和所述光纤的第二端待校验设备；接收所述现场维护装置根据所述待校验信息对所述待校验设备进行校验处理的校验结果。
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