[发明专利]获取特征排序模型的装置和方法以及特征排序方法在审
| 申请号： | 201510333995.8 | 申请日： | 2015-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN106326904A | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 孙健;夏迎炬;杨铭 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 朱胜,李春晖 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开提供了获取特征排序模型的装置和方法以及特征排序方法。获取特征排序模型的方法基于N个原始样本组进行学习，所述N个原始样本组各自包括多个原始样本，并且每个原始样本具有多个特征，其中，N为大于1的自然数，所述获取特征排序模型的方法包括：针对每个原始样本组，基于该组中的原始样本，获取所述多个特征的排序标签；针对每个原始样本组，基于该组中的原始样本，提取所述多个特征中的每个特征的子特征；以及基于针对所述N个原始样本组分别得到的所述多个特征的排序标签以及所述多个特征中的每个特征的子特征，通过学习获得所述特征排序模型。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 特征 排序 模型 装置 方法 以及 | ||
【主权项】：
一种获取特征排序模型的方法，所述方法基于N个原始样本组进行学习，所述N个原始样本组各自包括多个原始样本，并且每个原始样本具有多个特征，其中，N为大于1的自然数，所述方法包括：针对每个原始样本组，基于该组中的原始样本，获取所述多个特征的排序标签；针对每个原始样本组，基于该组中的原始样本，提取所述多个特征中的每个特征的子特征；以及基于针对所述N个原始样本组分别得到的所述多个特征的排序标签以及所述多个特征中的每个特征的子特征，通过学习获得所述特征排序模型。
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