[发明专利]一种ICT测试系统有效

专利信息
申请号: 201510334361.4 申请日: 2015-06-16
公开(公告)号: CN104897998B 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 王礼忠;罗显能;张科峰;彭进军 申请(专利权)人: 深圳市派捷电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/02
代理公司: 深圳市博锐专利事务所44275 代理人: 张明
地址: 518105 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及测试设备领域,尤其涉及一种ICT测试系统。在传统的ICT测试系统的基础上,在控制板增加数模转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片,以及在背板增加信号采样片选模块,在开关板增加CPLD模块,所述数模转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的12位精度数模专用芯片,设置于控制板上,与控制板配合可集成产生可编程电压源或者电流源激励,所述模数转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的14位高精度模数专用芯片,与控制板配合可实现高精度采样量测回路模拟信号参数,所述FPGA芯片集成度高,很多逻辑都可以通过FPGA实现,稳定性自然提高;由于逻辑采用FPGA芯片硬件描述语言实现,因此提升了系统的灵活性。
搜索关键词: 一种 ict 测试 系统
【主权项】:
一种ICT测试系统,其特征在于,包括工控机系统、设备控制模块和压台系统;所述设备控制模块包括控制板、背板和一个以上的开关板;所述控制板包括数模转换芯片、模数转换芯片和FPGA芯片;所述压台系统包括压台棒和针床;所述工控机系统分别与数模转换芯片和模数转换芯片连接;所述数模转换芯片与FPGA芯片连接;所述模数转换芯片与FPGA芯片连接;所述数模转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的12位精度DAC专用芯片;所述模数转换芯片为FPGA芯片并行总线访问方式的14位高精度ADC专用芯片;所述FPGA芯片分别与背板和压台棒连接;所述背板包括信号采样片选模块;所述开关板包括CPLD模块;所述背板通过信号采样片选模块分别与一个以上的CPLD模块连接;所述压台棒与针床连接;所述针床用于放置待测PCBA板;所述开关板用于测试待测PCBA板;所述工控机系统通过USB总线分别与数模转换芯片和模数转换芯片连接。
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