[发明专利]串联四极型质量分析装置

摘要

在控制部（50）的处理条件参数存储部（51）设置表示碰撞池(31)内的CID气压和用于收集数据的驻留时间之间的对应关系的驻留时间算出表（51a）。在该表（51a），CID气压越高驻留时间越长。一旦指示实施MRM测定模式，控制部（50）就会根据此时的CID气压决定驻留时间，并以如下方式控制数据收集部（41），即在该驻留时间期间，积算来自离子检测器（34）的检测信号并求出积算值。如果碰撞池(31)的CID气压较高，则离子的速度下降变得显著，离子强度的上升变得缓慢，但是如果驻留时间变长，则对积算值的缓慢的上升的影响会相对减轻，积算值的精度上升。由此，能够提高定量精度。

主权项

一种串联四极型质量分析装置，其特征在于，具备：前段四极质量过滤器，其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子；碰撞池，其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该母离子解离；后段四极质量过滤器，其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子；以及检测部，其检测被选择了的子离子，该串联四极型质量分析装置还具备：a)模式设定部，其用于供用户设定想要实施的测定模式；b)气体供给部，其将所述规定气体供给至所述碰撞池内；以及c)控制部，其以根据由所述模式设定部设定的测定模式而让所述碰撞池内的CID气压改变的方式控制所述气体供给部；所述控制部在被设定的测定模式是在前段四极质量过滤器进行质量扫描且在所述碰撞池内使离子解离的测定模式的情况下，与在前段四极质量过滤器不进行质量扫描的测定模式相比，降低碰撞池内的CID气压。