[发明专利]一种SPI接口调试方法在审

专利信息
申请号: 201510338476.0 申请日: 2015-06-17
公开(公告)号: CN106326176A 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 宁海文;李双宏;易为 申请(专利权)人: 深圳市创成微电子有限公司
主分类号: G06F13/42 分类号: G06F13/42
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518055 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种SPI接口调试方法,应用于SoC芯片设计领域,可实现通过SPI接口对SoC芯片进行调试,能最大化利用SPI接口和减少芯片调试接口的数量。所述方法包括:SPI接收数据;判断SoC系统是否为调试模式,若否,则进行正常的SPI数据传输;若是,则将接收到的数据进行解码,根据解码得到的读写模式、操作地址、数据来对芯片边界扫描链上的寄存器进行读写,实现调试功能。本发明还相应公开了一种SPI接口调试装置。
搜索关键词: 一种 spi 接口 调试 方法
【主权项】:
一种SPI接口调试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:101、SPI接收外部输入数据;102、判断SoC系统是否为调试模式,若SoC系统为非调试模式,则进入步骤103;若SoC系统为调试模式,则进入步骤104;103、进行正常的SPI数据传输;104、将接收到的数据进行解码,得到读写模式,操作地址,数据;105、对步骤104得到的读写模式进行判断,若为写模式则进入步骤106;若为读模式则进入步骤107;106、将步骤104解码得到的数据写到步骤S4得到的操作地址中;107、往步骤104得到的操作地址读数据,将读到的数据通过SPI接口进行输出。
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