[发明专利]一种环状阻尼零件动态特性测试振动台装置有效
申请号: | 201510342696.0 | 申请日: | 2015-06-19 |
公开(公告)号: | CN106323572B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 王成林;孙伟琛;李晓杰;张涛 | 申请(专利权)人: | 北京物资学院 |
主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 101149 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种环状阻尼零件动态特性测试振动台装置,实现对不同规格和材料环状阻尼零件的测试。该振动台装置包括上基座(1)、下基座(2)、测试校准杆(3)、测试校准块(4)、测试轴(5)和轴套(6);下基座(2)固定在振动台上,2个上基座(1)分别固定在下基座(2)上,上基座(1)的环形定位槽II(9)与下基座(2)环形定位槽III(14)构成封闭环形槽。2个轴套(6)分别套装在测试轴(5)的两端,多个待测环状阻尼零件(7)依次套装在轴套(6)上并位于封闭环形槽内;测试校准块(4)通过螺纹套装在测试校准杆(3)上,测试校准块(4)侧面与测试轴(5)中部的侧面接触。保温罩(8)扣装在下基座(2)底部上。 | ||
搜索关键词: | 一种 环状 阻尼 零件 动态 特性 测试 振动 装置 | ||
【主权项】:
1.一种环状阻尼零件动态特性测试振动台装置,其特征是:该振动台装置包括振动台、上基座(1)、下基座(2)、测试校准杆(3)、测试校准块(4)、测试轴(5)、轴套(6)和保温罩(8);上基座(1)的中心为内凹半圆柱面,在上基座(1)的内凹半圆柱面上加工有多道环形定位槽I(9),多道环形定位槽I(9)沿上基座(1)的轴线均匀分布;下基座(2)为“凸”形结构,“凸”形上部为2个凸台(10),2个凸台(10)沿下基座(2)的轴线方向分布,凸台(10)的上端面中心为半圆槽(11),在凸台(10)的前端面安装贴片式温度传感器,2个凸台(10)中间加工有定位槽III(13),2个凸台(10)的半圆槽(11)内表面均加工有多道环形定位槽II(14),多道环形定位槽II(14)分别与2个上基座(1)中的环形定位槽I(9)一一对应;下基座(2)固定在振动台上,2个上基座(1)分别固定在2个凸台(10)上,2个上基座(1)的内凹半圆柱面与下基座(2)的半圆槽(11)构成一个支撑圆柱面,支撑圆柱面的轴线与振动台平行,环形定位槽II(14)与环形定位槽I(9)位置互相对应,形成完整环形槽结构;测试轴(5)为阶梯轴,测试轴(5)中部的顶面和两侧面均为平面,且顶面与两个侧面均垂直,顶面上胶粘有三向加速度传感器(1 6),三向加速度传感器(16)的测试方向中的两个方向分别为测试轴(5)的轴向和顶面的法向;2个轴套(6)分别套装在测试轴(5)的两端,测试轴(5)两端通过螺母轴向固定,多个待测环状阻尼零件(7)依次套装在轴套(6)上,测试轴(5)、轴套(6)与待测环状阻尼零件(7)一起支撑在支撑圆柱面内,且待测环状阻尼零件(7)位于完整环形槽结构内;测试校准块(4)为“L”形,测试校准块(4)的“L”形竖直部分通过螺纹套装在测试校准杆(3)上,测试校准杆(3)的两端支撑在下基座(2)上,测试校准杆(3)的轴线与振动台平行,且测试校准杆(3)的轴线垂直于测试轴(5)的轴线,测试校准块(4)的“L”形底部与定位槽III(13)滑动连接,使测试校准块(4)的“L”形竖直部分外侧面与测试轴(5)中部的一个侧面接触;保温罩(8)扣装固定在下基座(2)的“凸”形底部上,保温罩8将上基座(1)、下基座(2)、测试校准杆(3)、测试校准块(4)和测试轴(5)罩在保温罩(8)内。
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