[发明专利]激光加工装置有效
申请号: | 201510346041.0 | 申请日: | 2015-06-19 |
公开(公告)号: | CN105195904B | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 高桥悌史;石塚智彦;伊藤健治;成濑正史;金田充弘 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | B23K26/382 | 分类号: | B23K26/382;B23K26/064;B23K26/70 |
代理公司: | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人: | 韩登营;栗涛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种激光加工装置,在多点同时照射的激光加工过程中,能够节省空间、高速且高品质地进行激光加工。激光加工装置(1)具有:作为第1激光振荡机构的激光振荡器(3a),其输出第1激光;作为第2激光振荡机构的激光振荡器(3b),其输出第2激光;作为第1副检流计式光学扫描器的副检流计式光学扫描器(7a);作为第2副检流计式光学扫描器的副检流计式光学扫描器(7b);作为激光合路机构的偏振光分束器(8);主检流计式光学扫描器(9a、9b);f‑θ透镜(10),其使来自主检流计式光学扫描器的第1激光和第2激光聚光;作为激光振荡控制机构的激光振荡器控制部(22),其对第1激光振荡机构和第2激光振荡机构分别进行独立的控制。 | ||
搜索关键词: | 激光 加工 装置 | ||
【主权项】:
一种激光加工装置,其特征在于,具有:第1激光振荡机构,其输出第1激光;第2激光振荡机构,其输出第2激光;第1副检流计式光学扫描器,其使所述第1激光振荡机构输出的所述第1激光向第1方向偏转;第2副检流计式光学扫描器,其使所述第2激光振荡机构输出的所述第2激光向第2方向偏转,所述第2方向不同于所述第1方向;激光合路机构,其使来自所述第1副检流计式光学扫描器的所述第1激光和来自所述第2副检流计式光学扫描器的所述第2激光合成一路;主检流计式光学扫描器,其使来自所述激光合路机构的所述第1激光和所述第2激光偏转;f‑θ透镜,其对来自所述主检流计式光学扫描器的所述第1激光和所述第2激光进行聚光;激光振荡控制机构,其对所述第1激光振荡机构和所述第2激光振荡机构分别进行独立的控制。
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