[发明专利]一种填补致密膜缺陷的方法有效
申请号: | 201510346454.9 | 申请日: | 2015-06-19 |
公开(公告)号: | CN106310956B | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 郑磊;李慧;徐恒泳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | B01D67/00 | 分类号: | B01D67/00 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 马驰 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明采用高温胶与一定粒径分布的陶瓷粒子混合制备复合修饰液,对致密膜上存在的缺陷实现全范围修饰(几个纳米‑几百微米)。其中陶瓷粒子用来修饰致密膜上的大缺陷(如大于5nm),高温胶用来修饰致密膜上的小缺陷(如小于5nm);另外,高温胶的使用能显著提高修饰液的流平性能,并且起到对陶瓷粒子粘合增韧的目的,从而降低后处理温度。采用本发明制得的复合修饰液对有缺陷的致密膜表面进行涂覆修饰,陶瓷粒子及高温胶只填充缺陷部分,并不吸附在致密膜表面。该方法能实现接近100%的缺陷填充率,具有工艺简单、重复性好的优点,适合规模化的致密膜缺陷填补。 | ||
搜索关键词: | 一种 填补 致密 缺陷 方法 | ||
【主权项】:
1.一种填补致密膜缺陷的方法,其特征在于,采用高温胶和陶瓷粒子混合制成缺陷填补液,通过负压法将缺陷填补液中的陶瓷粒子和高温胶从致密膜一侧或二侧引入到致密膜表面的缺陷中,用去离子水将致密膜表面残留的液体进行冲洗,修饰后的湿膜经低温处理后即可得到无缺陷的致密膜;所述高温胶为Na2SiO3。
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