[发明专利]创建对称FIB沉积的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201510347983.0 申请日: 2015-06-23
公开(公告)号: CN105200394A 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: S.E.富勒;O.西多罗夫 申请(专利权)人: FEI公司
主分类号: C23C16/448 分类号: C23C16/448
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;张懿
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种使用利用成角度的射束的带电粒子射束沉积产生对称沉积的系统。在过去,使用具有非正交入射角的FIB产生沉积,该沉积朝向FIB射束路径生长,从而使得难以产生沉积物的均匀性。利用本发明,即使在使用非正交FIB的情况下也得到对称的沉积。
搜索关键词: 创建 对称 fib 沉积 方法 系统
【主权项】:
一种使用聚焦离子射束形成具有均匀沉积的TEM样本薄片的方法,包括:以大于偏离表面法向30度的角度将聚焦离子射束引导朝向工件表面,带电粒子具有10keV或更小的着陆能量;在所述带电粒子射束的撞击点处提供碳前驱气体,在存在所述离子射束时,所述碳前驱气体分解以将碳沉积到所述工件上;以及将聚焦离子射束引导朝向所述工件上的沉积的材料以将材料从感兴趣的区域的两侧移除,从而保留包含感兴趣区域的薄的薄片,所述沉积的碳在形成期间保护所述薄的薄片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510347983.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top